CS-ISTS-01 图像传感器综合测试系统

CS-ISTS-01图像传感器综合测试系统面向CMOS、CCD等图像传感器及成像模组的光电性能测试与性能表征，集成标准光学测试模块、精密光学通路、自动化数据采集与分析软件，可用于图像传感器关键性能参数测试、数据分析及测试结果归档。

系统支持动态范围、暗噪声、最大信噪比、量子效率（QE）、光电线性度、绝对灵敏度阈值、饱和容量、暗信号空间不均匀性（DSNU）、光响应空间不均匀性（PRNU）等测试项目，可依据EMVA 1288相关测试方法开展图像传感器性能表征。

适用于图像传感器研发、芯片及模组测试、产品验证、品质检测以及科研实验等场景，为CMOS/CCD图像传感器提供标准化测试条件和数据分析支持。

核心应用

01｜图像传感器研发

面向CMOS、CCD等图像传感器研发，开展关键光电性能参数测试，为传感器性能分析、参数优化及产品验证提供测试数据。

02｜图像传感器芯片测试

适用于图像传感器芯片研发及测试，对不同测试条件下的传感器响应进行采集与分析，辅助评估器件光电性能。

03｜成像模组测试

面向摄像模组及机器视觉成像组件，提供标准化光学测试条件及性能测试，用于模组研发、产品验证与质量检测。

04｜机器视觉与工业相机

适用于工业相机、机器视觉传感器等产品的性能测试与参数分析，为成像性能评价提供数据支持。

05｜科研与实验室

适用于高校、科研机构及第三方实验室开展图像传感器性能研究、测试方法验证和数据分析。

产品核心特点

01｜标准化光学测试

集成标准光学测试模块，为图像传感器提供稳定、可控的测试光学条件，支持多波段测试条件配置。

02｜多波段测试

配置多波段标准测试光源，覆盖可见光及近红外测试波段，可根据不同图像传感器的光谱响应特性选择相应测试波段：

460 nm、525 nm、625 nm、905 nm、1050 nm、1200 nm、1300 nm、1550 nm

03｜多参数性能测试

支持图像传感器多项关键光电性能参数测试，包括：

动态范围、暗噪声、最大信噪比、量子效率（QE）、光电线性度、绝对灵敏度阈值、饱和容量、暗信号空间不均匀性（DSNU）、光响应空间不均匀性（PRNU）

04｜自动化测试与分析
配套测试软件，实现测试条件设置、数据采集、参数计算及结果分析，减少重复人工操作，提升测试流程的一致性。
05｜数据归档与报告输出
支持测试数据、分析结果统一归档，并可根据测试需求输出标准化测试报告，便于研发分析、产品验证及质量追溯。

产品参数

参数分类	参数名称	技术指标
光谱光源参数	标准测试波长	460nm、525nm,、625nm、905nm、1050nm、1200nm、1300nm,、1550nm
	波长半高全宽（谱宽）	≤50nm
光学输出参数	发光面尺寸	95mm
	光功率稳定性	＜1%，长时间测试无亮度漂移，测试重复性高
测试对象	传感器类型	CMOS、CCD等图像传感器
测试能力	测试项目	动态范围、暗噪声、最大信噪比、量子效率（QE）、光电线性度、绝对灵敏度阈值、饱和容量、DSNU、PRNU
测试方法	自动化测试	自动化数据采集、分析及结果输出
数据管理	数据与报告	测试数据归档、结果分析、标准化测试报告
设备参数	设备尺寸	910mm × 130mm（长×宽）

测试标准

EMVA 1288

系统可依据EMVA 1288相关测试方法开展图像传感器及机器视觉相机性能表征，支持动态范围、暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、DSNU、PRNU等相关参数的测试与分析。

【实验室预约】更多相关产品及测试服务的信息，请联系：sales@colorspace.com.cn

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