中波及长波波段的红外热像仪在国家国防及安全部门具有重要的作用，对于红外热像仪的生产商，维修单位，科研院所以及最终用户等来说，红外热像仪的测试具有重要的意义。

提供的测试系统满足不同的红外热像仪测试需求：

- SIM系统（实验室环境简单化测量远距离侦察/科研级别热像仪）

SIM系统是简单化的红外热像仪测试系统，主要基于分辨率及聚焦的测试。

DT测试系统是基于高精度的TCB黑体来测试红外热像仪各项参数，该系统提供了红外热像仪一系列参数的精确测试与评估，然而由于DT测试系统价格相对较高，因此我们设计生产了相对简化且低成本的SIM测试系统，用于测试分辨率、相对灵敏度、无限聚焦以及轴线校准。

SIM150测试系统基于将SIM50黑体产生的辐射通过手动可更换红外靶标的图像投射到被测试的红外热像仪，由系统采集卡采集到标准图像后通过专业分析软件分析计算得到被测试的参数。系统由三个主要部分组成：CDT15150SR离轴反射式平行光管、SIM50黑体包含CSIM50控制器以及一组红外靶标。

SIM测试系统原理框图	IR USAF1951靶标

· SIM 系统模块

了解更多相关产品及测试服务信息，可联系：sales@colorspace.com.cn

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