荧光均匀性测试卡CS-ECTS-TC29是一款专业近红外荧光相机系统测试耗材,专为800nm(ICG)和700nm(MB)近红外荧光(NIRF)相机系统设计,核心用于此类相机系统的均匀性测试,可广泛应用于医疗领域NIRF相机的性能检测,为相机系统荧光成像均匀性评估提供精准、可靠的支持,确保设备成像质量达标。
该测试卡核心功能为800nm(ICG)和700nm(MB)NIRF相机系统均匀性测试,依托标准化设计及1点/mm的分辨率规格,能够清晰捕捉相机系统荧光成像的均匀度细节,助力检测人员精准排查成像均匀性问题,全面评估NIRF相机系统的光学性能,确保相机系统在不同波长下均能呈现均匀、稳定的荧光成像效果。
产品采用80mm × 54mm的合理尺寸设计,适配800nm、700nm两种波长的NIRF相机系统测试场景,操作便捷,无需额外适配配件,可快速完成相机系统均匀性检测,为NIRF相机系统的日常性能校验、质量把控提供便捷、高效的解决方案。
测试卡规格参数:
| 参数 | 荧光均匀性测试卡 |
| 型号 | CS-ECTS-TC29 |
| 尺寸 |
80mm × 54mm |
| 图卡类型 |
NIRF 优化荧光材料 |
| 测试波段 | 700nm(NB)~800nm(ICG) |
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