正印科技针对医用和工业内窥镜成像系统,研发推出了CS-ECTS-TC系列内窥镜测试卡,CS-ECTS-TC29 荧光均匀性测试卡专为 NIRF(近红外荧光)内窥镜成像系统设计,用于评估设备在 700 nm(MB)~ 800 nm(ICG)波段下的照明与成像均匀性表现。
CS-ECTS-TC29 采用 DIN A4 标准尺寸,以 10 点/厘米分辨率的高精度点阵图案印制在特制基材上。该结构化点阵在荧光激发与近红外成像条件下,可清晰呈现系统的亮度分布与均匀性特征。测试卡针对近红外荧光成像进行了光谱优化,确保在 700 nm~800 nm 区间均能获得稳定、可重复的测试结果。
测试卡规格参数:
| 参数 | 荧光均匀性测试卡 |
| 型号 | CS-ECTS-TC29 |
| 尺寸 |
DIN A4 |
| 图卡类型 |
NIRF 优化荧光材料 |
| 测试波段 | 700nm(NB)~800nm(ICG) |
| 使用 | 直接固定到CS-ECTS测试系统上使用 |
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