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医疗专用测试卡

  • 荧光均匀性测试卡
荧光均匀性测试卡

荧光均匀性测试卡

  • 品牌:正印科技ColorSpace
  • 型号:CS-ECTS-TC29
  • 产品描述:CS-ECTS-TC29 专为 NIRF 近红外荧光内窥镜设计,覆盖 700–800 nm 波段,用于验证照明与成像均匀性。DIN A4 标准尺寸,结构化点阵确保高重复性测试。
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CS-ECTS-TC29 荧光均匀性测试卡专用于内窥镜成像质量测试

正印科技针对医用和工业内窥镜成像系统,研发推出了CS-ECTS-TC系列内窥镜测试卡,CS-ECTS-TC29 荧光均匀性测试卡专为 NIRF(近红外荧光)内窥镜成像系统设计,用于评估设备在 700 nm(MB)~ 800 nm(ICG)波段下的照明与成像均匀性表现。

CS-ECTS-TC29 采用 DIN A4 标准尺寸,以 10 点/厘米分辨率的高精度点阵图案印制在特制基材上。该结构化点阵在荧光激发与近红外成像条件下,可清晰呈现系统的亮度分布与均匀性特征。测试卡针对近红外荧光成像进行了光谱优化,确保在 700 nm~800 nm 区间均能获得稳定、可重复的测试结果。

CS-ECTS-TC29 荧光均匀性测试卡


测试卡规格参数:

参数 荧光均匀性测试卡
型号 CS-ECTS-TC29
尺寸

DIN A4

图卡类型 NIRF 优化荧光材料
测试波段 700nm(NB)~800nm(ICG)
使用 直接固定到CS-ECTS测试系统上使用


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